Дополнительные сведения:
Личные качества:
Ответственность, коммуникабельность, пунктуальность, целеустремленность, активность, жизнерадостность. Легко обучаема, веду здоровый образ жизни, умею работать в команде и индивидуально. Личная заинтересованность в конечном результате.
- Высокий уровень инженерных знаний в области физики, рентгеновской дифрактометрии и структурному анализу.
- Работа на рентгеновских дифрактометрах ARL X’TRA, ДРОН-3, ДРОН-6.
- Опыт получения из рентгенограмм качественного и количественного состава, как кристаллических так и аморфных веществ.
- Выполнение полнопрофельного анализ и построение модели структуры образцов для кристаллических веществ.
- Рассчитывание характеристик ближнего порядка для аморфных веществ, такие как радиусы ri и размытия σi координационных сфер и координационные числа Ni, построение модели структуры области ближнего упорядочения веществ.
- Большой опыт в исследовании образцов, юстировке дифрактометров, настройке дифрактометров, приготовление и установка образцов, при съемке как на отражение, так и на просвет.
- Опыт работы на оборудовании Almega XR, получение спектров комбинационного рассеяния света, фазового состава вещества, его чистоты и характеристик для получения структуры.
- Имею опыт работы на шаровой мельнице Fritsch PULVERISETTE 7 premium line
- Навык работы на различных микроскопах: атомно-силовой микроскоп, сканирующий электронный микроскоп, рентгеновский микроскоп и оптический.
- Опыт выступлений, презентаций и защиты проектов.
РАБОТА В ПРОГРАММАХ:
ANSYS, PDWin, HyperChem, Mercury, MRIA, 3D-GRAF, пакет программ X-ray, Omnic, Atlus, AutoCad, КОМПАС, Microsoft office, Adobe Photoshop, Gimp и др.